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■金属探测仪 ■系数测定仪 ■测厚仪

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	金属探测仪 AK-3200	AK-3200型地下金属探测仪主要用来探测和识别埋藏在地下的金属物，主要应用于探矿、考古以及搜寻地下金属材质的文物。
	金属探测仪 AK-1800	AK-1800型地下金属探测仪主要用来探测和识别埋藏在地下的金属物，主要应用于探矿、考古以及搜寻地下金属材质的文物。
	导热系数测试仪 DRL-III	DRL-III导热系数测试仪带自动加压、自动测厚装置，并连计算机实现全自动控制。仪器采用6点温度梯度检测，提高了测试精度。可检测不同压力下热阻曲线，采用优化的数学模型，可测量材料导热系数和热阻以及界面处接触热阻等多个参数。
	热膨胀系数测定仪 PCY	PCY型热膨胀仪(热膨胀系数测定仪)用于检测固体无机材料、金属材料的高温膨胀性能，特别是刚玉、耐火材料、精铸用型壳及型芯材料、陶瓷、陶瓷原料、瓷泥、釉料、玻璃、石墨、碳素等无机材料、金属制品的性能！
	导热系数测定仪 DRL-II	DRL-II型导热系数测定仪主要用于薄的热导体、硅胶、硅橡胶、固体电绝缘材料、导热硅胶、导热树脂、氧化铍瓷、陶瓷基片、陶瓷基板、其他铝基片、氧化铝瓷等物体导热系数测定。
	超声波测厚仪 UM-2	UM-2超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-2分辨力0.01，超声波测厚仪具有最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值；数据存储；报警功能。
	超声波测厚仪 UM-1D	UM-1D型超声波测厚仪具有小巧轻便，操作简单，功能卓越。两种工作模式，其中涂层模式即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。
	超声波测厚仪 UM-1	UM-1型超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-1超声波测厚仪具有最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值；数据存储；报警功能。
	涂层测厚仪 AK-30	AK30涂层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》
	涂层测厚仪 MC-2000	MC-2000系列磁性涂层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量，仪器可存储254个测量数据、可连接打印机及微机。
	涂层测厚仪 AK50	AK50涂层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》
	镀层测厚仪 CMI900	CMI900型镀层测厚仪是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。涂镀层厚度测量和/或成分分析，元素范围 Ti - U可同时进行多达15层元素成分分析测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987

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